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背景干擾主要是指原子化過程中所產生的光譜干擾,主要有分子吸收干擾和散射干擾,干擾嚴重時,不能進行測定。
1. 原子吸收分光光度分析法分子吸收與光散射
分子吸收:原子化過程中,存在或生成的分子對特征輻射產生的吸收。分子光譜是帶狀光譜,勢必在一定波長范圍內產生干擾。
光散射:原子化過程中,存在或生成的微粒使光產生的散射現象。
產生正偏差,石墨爐原子化法比火焰法產生的干擾嚴重
如何消除?
2.原子吸收分光光度分析法背景干擾校正方法
(1) 氘燈連續(xù)光譜背景校正
旋轉斬光器交替使氘燈提供的連續(xù)光譜和空心陰極燈提供的共振線通過火焰;
連續(xù)光譜通過時:測定的為背景吸收(此時的共振線吸收相對于總吸收可忽略);
共振線通過時,
測定總吸收;
差值為有效吸收;
(2)塞曼(Zeeman)效應背景校正法
Zeeman效應:在磁場作用下簡并的譜線發(fā)生裂分的現象;
校正原理:原子化器加磁場后,隨旋轉偏振器的轉動,當平行磁場的偏振光通過火焰時,產生總吸收;當垂直磁場的偏振光通過火焰時,只產生背景吸收;
見下頁圖示:
方式:光源調制法和共振線調制法(應用較多),后者又分為恒定磁場調制方式和可變磁場調制方式。
優(yōu)點:校正能力強(可校正背景A 1.2~2.0);
可校正波長范圍寬:190 ~ 900nm ;
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